扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜与光学显微镜之间的一种观察手段。它是运用聚焦十分窄的高能电子束来扫描样品，通过光束合物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大还有再成像为了达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率能够达到1nm；放大倍数能够达到三十万倍或者以上连续可调；并且景深大，视野大，成像立体效果好。除此之外，扫描电子显微镜与其他分析仪器相结合，能够做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶...

扫描电镜中STEM透射模式的应用透射电镜的加速电压较高(一般为120-200kV)，对于有机高分子、生物等软材料样品的穿透能力强，形成的透射像衬度低，而扫描电镜的加速电压较低(一般用10-30kV)，因此应用其STEM模式成透射像，可大大提高像的衬度。有机太阳能电池用的高分子/富勒烯薄膜(有机固体实验室样品)的透射电子像，在用透射电镜观察其分相结构时，由于两部分衬度都低，因此几乎无法区分，而应用扫描电镜的STEM模式观察时，可清楚地观察到两相的结构。应用透射电镜观察生物样品时...

扫描电子显微镜SEM的基本知识，一定要了解在材料领域中，扫描电镜技术发挥着极其重要的作用，被广泛应用于各种材料的形态结构、界面状况、损伤机制及材料性能预测等方面的研究。利用扫描电镜可以直接研究晶体缺陷及其产生过程，可以观察金属材料内部原子的集结方式和它们的真实边界，也可以观察在不同条件下边界移动的方式，还可以检查晶体在表面机械加工中引起的损伤和辐射损伤等。扫描电镜的结构及主要性能扫描电镜可粗略分为镜体和电源电路系统两部分。镜体部分由电子光学系统、信号收集和显示系统以及真空抽气...

扫描电子显微镜(SEM)是1965年发明的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态，即用极狭窄的电子束去扫描样品，通过电子束与样品的相互作用产生各种效应，其中主要是样品的二次电子发射。二次电子能够产生样品表面放大的形貌像，这个像是在样品被扫描时按时序建立起来的，即使用逐点成像的方法获得放大像。一.原理：如果入射电子撞击样品表面原子的外层电子，把它激发出来，就形成低能量的二次电子，在电厂的作用下它可呈曲线运动，翻越障碍进入检测器，使表面凹凸的各个部分都...

扫描电镜的放大倍数像素大小和标尺显微镜把原先的物体放大成图像便于我们观察，物与像的尺寸关系可通过放大倍数来衡量。放大率或者放大倍数(Magnification)，被定义为像宽度L与物宽度l的比值，即：M=L/l(1-1)在扫描电镜中，一端是电子束在样品表面l范围内扫描，另一端是信号在显示器上显示宽度为L的像，如图1-2所示的对应关系。通常电镜显示器上图像的宽度L是固定的，所以往往通过调节物的尺寸l来改变放大倍数。尺寸l越大，可以观察到的范围(即视场)越大，而放大倍数越小，这样...