聚焦失效分析，共促产学研协同——ICIE平台失效分析服务开放日活动圆满举行

更新时间：2026-04-22 点击次数：9

4月13日，国家集成电路产教融合创新平台（ICIE）与国仪量子技术（合肥）股份有限公司联合举办的“失效分析服务开放日"活动顺利举行。本次活动围绕ICIE平台功能、失效分析应用案例及设备实操技能培训展开深入交流，吸引了众多校内师生及校外行业同仁踊跃参与，现场气氛热烈。

活动由ICIE平台涂小明博士主持。平台副主任钱凌轩教授首先系统介绍了ICIE平台的建设概况、科研能力及产教融合成果，帮助参会者深入了解平台在集成电路领域的战略布局与建设成效。

在专题报告环节，国仪量子上海实验室负责人王锋围绕国仪量子失效分析仪器进行讲解，重点介绍了聚焦离子束显微镜（FIB）、扫描电子显微镜（SEM）在失效分析中的核心应用，并分享了DB550、SEM5000X等国产高端电镜的技术突破与实际案例，以及设备原理、参数解析及实操技巧。精彩报告引发热烈互动，现场提问踊跃，交流氛围浓厚。

随后举行了《国仪量子电镜售后服务承诺书》颁布仪式。国仪量子电镜客户成功经理沈志鹏代表公司，向钱凌轩教授郑重递交承诺书，彰显了国仪量子在售后服务保障方面的责任与担当。

活动最后安排了抽奖环节和ICIE平台实验室参观，参会者纷纷表示收获颇丰。本次开放日通过主题报告、实操培训、服务承诺发布及平台参观等丰富形式，有效促进了先进检测技术与教学科研的深度融合，为集成电路领域产学研协同创新注入了新动能。

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