扫描电子显微镜是运用材料表面微区的特征的差异

　　扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜与光学显微镜之间的一种观察手段。它是运用聚焦十分窄的高能电子束来扫描样品，通过光束合物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大还有再成像为了达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率能够达到1nm；放大倍数能够达到三十万倍或者以上连续可调；并且景深大，视野大，成像立体效果好。除此之外，扫描电子显微镜与其他分析仪器相结合，能够做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷以及纳米材料等的研究上有普遍的使用。所以扫描电子显微镜在科学研究领域具有大的作用。

　　扫描电子显微镜是运用材料表面微区的特征（如形貌、原子序数、化学成分或者晶体结构等）的差异，在电子束作用下通过试样不同区域产生不同的亮度差异，从而获得具有一定衬度的图像。成像信号是二次电子、背散射电子或者吸收电子，此中二次电子是主要的成像信号。高能电子束轰击样品表面，激发出样品表面的各种物理信号，再利用不同的信号探测器接受物理信号转换成图像信息。

　　扫描电子显微镜除了可以测试二次电子图像之外，还可以测试背散射电子、透射电子、特征x射线以及阴极发光等信号图像。它的成像原理和二次电子像一样。在进行扫描电子显微镜观察之前，要对样品作相应的处理。

　　扫描电子显微镜对样品的要求：

　　首先第一点，不会被电子束分解；

　　其次第二点，在电子束扫描下热稳定性要好；

　　第三点，可以提供导电还有导热通道；

　　第四点，大小和厚度要适合使用于样品台的安装；

　　第五点，观察面应该清洁并且无污染物；

　　第六点，进行微区成分分析的表面应该平整；

　　最后第七点，磁性试样要预先去磁，是为了避免观察的时候电子束受到磁场的影响。